61. Essential NMR :For Scientists and Engineers
پدیدآورنده : Blumich, Bernhard.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Analytical chemistry,، Spectroscopy,، Microscopy,، Materials science,، Biology-Technique,، Solid state physics,، Polymers,، Analytical Chemistry,، Spectroscopy and Microscopy,، Characterization and Evaluation of Materials,، Biological Techniques,، Solid State Physics,، Polymer Sciences
رده :
QD
101
.
B3E8
62. Field-ion microscopy
پدیدآورنده : Wagner, R.)Richard(,7491-, by R. Wagner
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : ، Materials- Microscopy,، Field ion microscopy
رده :
QD
921
.
C8
63. Handbook of diagnostic electron microscopy for pathologists-in-training
پدیدآورنده : / Irving Dardick
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه علوم پزشكی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Microscopy, Electron- methods- handbooks,Cytodiagnosis- methods- handbooks,Pathology- education- handbooks,Teaching Materials- handbooks
رده :
QY39
D216h
1996
64. #Handbook of materials characterization
پدیدآورنده : #Jeff Turner, editor
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Materials science ،Materials -- Microscopy
رده :
#
TA
،#.
H36
،#
2012
65. Handbook of microscopy
پدیدآورنده : / edited by S. Amelinckx ... [et al.]
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Microscopy.,Materials--Microscopy
رده :
QH
,
205
.
2
,.
H35
,
1997
66. Handbook of microscopy. applications in materials science, solid-state physics, and chemistry
پدیدآورنده : edited by S. Amelinckx ... ]et al.[
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Microscopy,، Materials, Microscopy
رده :
QH
205
.
2
.
H35
1997
67. High-energy electron diffraction and microscopy
پدیدآورنده : Peng, L.-M
کتابخانه: کتابخانه مرکزي و مرکز اسناد دانشگاه سمنان (سمنان)
موضوع : ، High energy electron diffraction,، Electron microscopy,، Materials science
رده :
QC
793
.
5E628
P45
2004
68. High-resolution electron microscopy for materials science, Zairyo Hyoka no tameno Kobunkaino Denshi Kenbikyou Ho. English
پدیدآورنده : Shindo, D.)Daisuke(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Materials-- Microscopy,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S53
1998
69. Images of materials
پدیدآورنده : / edited by David B. Williams, Alan R. Pelton, Ronald Gronsky
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Materials- Microscopy
رده :
TA418
.
7
.
I44
1991
70. Imaging methods for novel materials and challenging applications.
پدیدآورنده : Helena Jin...[et al.], editors
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Microscopy, Congresses,Nondestructive testing, Congresses
رده :
TA417
.
2
.
I58
2012
71. Industrial applications of electron microscop
پدیدآورنده : / edited by Zhigang R. Li
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Materials--Microscopy,Electron microscopy--Industrial applications
رده :
TA
,
417
.
23
,.
I52
,
2003
,
WEB
72. Industrial applications of electron microscopy
پدیدآورنده : / edited by Zhigang R. Li
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Materials , Microscopy,Electron microscopy , Industrial applications
رده :
E-BOOK
73. Industrial applications of electron microscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ;
74. Instrumentations and Nanostructures
پدیدآورنده : A.S. Bhatia, foreword by S.M.Ishtiaque
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشكده نفت اهواز (خوزستان)
موضوع : Nanostructures,Nanostructured materials,Nanotechnology,Nanoscience,electron microscopy
رده :
QC
,
178
.
8
,.
B53
,
2009
75. Kelvin probe force microscopy :
پدیدآورنده : Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Atomic force microscopy.,Electrostatics-- Measurement.,Scanning probe microscopy.,Materials science.,Materials science.,Measurement.,Mensuration & systems of measurement.,Microscopy.,Nanotechnology.,Physical measurements.,Physics.,Precision instruments manufacture.,SCIENCE-- General.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology),Testing of materials.,Thin films.
رده :
QH212
.
A78
K45
2018
76. Local structure from diffraction
پدیدآورنده : / edited by S.J.L. Billinge and M.F. Thorpe
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Materials, Microscopy,Diffraction patterns,Long range order (Solid state physics)
رده :
TA417
.
23
.
L63
1998
77. Microbial aspects of the deterioration of materials
پدیدآورنده : edited by R. J. Gilbert and D. W. Lovelock
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : Congresses ، Materials - Biodeterioration,Congresses ، Materials - Microscopy
رده :
TA
418
.
74
.
M53
1975
78. Microscopy of materials ; modern imaging methods using electron, x- ray and ion beams
پدیدآورنده : Bowen , David Keith, 0491-
موضوع : ، Materials - Microscopy
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
79. Microscopy of materials; modern imaging methods using electron, Xray and ion beams
پدیدآورنده : Bowen,David Keith,
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Microscopy ، Materials,Data processing ، Finite element method,Data processing ، Continuum mechanics,، TEPSAC )Computer program(,Data processing ، Thermoelesticity
رده :
TA
418
.
7
.
B6
80. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith)David Keith(
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : ، Materials - Microscopy
رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b
